一、沖擊試樣缺口投影儀XT-50概述：

XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T299-1994《金屬夏比沖擊試驗方法》中沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點是操作簡便，對比直觀。

隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響試驗結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格，那么其試驗結(jié)果是不可信的，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳，尤其是在試驗的臨界值時，會引起產(chǎn)品的合格或報廢兩種截然相反的不同結(jié)局。為保證試樣缺口的合格，其質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段，目前，用光學(xué)投影放大檢驗是尤其切實可行的方法。

二、沖擊試樣缺口投影儀XT-50工作原理：

本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。

根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位一致。

三、沖擊試樣缺口投影儀XT-50主要參數(shù)：

投影屏直徑：  180mm  

工作臺尺寸：  

方工作臺尺寸：  110×125mm  

圓工作臺直徑：  90mm  

工作臺玻璃直徑：  70mm  

工作臺行程：  

縱向：  ±10mm  

橫向：  ±10mm  

升降：  ±12mm（無刻度）  

工作臺轉(zhuǎn)動范圍：  0-360°（無刻度）  

放大倍數(shù)：  

儀器放大倍率：  50X  

物鏡放大倍率：  2.5X  

投影物鏡放大倍率：  20X  

光源（鹵鎢燈）：  12V 100W  

外形尺寸：  515×224×603mm（長×寬×高）

重量：  約18Kg